Сотрудниками НОШ «Фотоника» представлен новый метод характеризации линейно-оптических схем, основанный на корреляционных измерениях теплового поля. Работа опубликована в журнале Laser Physics Letters.
В отличие от других известных методов характеризации многоканальных интерферометров, предлагаемая методика устойчива к фазовым флуктуациям на входе и выходе и не требует каких-либо однофотонных источников и детекторов. Метод был проверен в численных экспериментах, а его эффективность была продемонстрирована даже в присутствии шума.